簡要描述：SS900LN全光譜透過率測(cè)試是一套全波長的0度角光譜透過率檢測(cè)儀，能快速準(zhǔn)確的測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透過率，可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，產(chǎn)品全檢分選。
產(chǎn)品品牌：雙色云譜廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-04-14訪 問 量：2150產(chǎn)品目錄Product center
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| 品牌 | 雙色云譜 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 是 |
SS900LN全光譜透過率測(cè)試
SS900LN是一套全波長的0度角光譜透過率檢測(cè)儀，能快速準(zhǔn)確的測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透過率，可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè)，產(chǎn)品全檢分選，適合于：棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片、紅外透過率、紫外透過率、各類材料透過率檢測(cè)
主要測(cè)試參數(shù)：透過率、紫外透過率（＜400nm）、藍(lán)光透過率(400-500nm)、綠光透過率(500-600nm)、紅光透過率(600-700nm)、紅外（＞700nm）、自定義透過率（380-1000nm）等參數(shù)。
SS900LN全光譜透過率測(cè)試
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